材料、矿物物相结构及形貌分析平台

透射电子显微镜

仪器名称：透射电子显微镜         仪器型号：JEM-F200

生产厂家：日本电子/英国牛津仪器公司

检测范围：材料形貌和结构的分析

主要技术指标：

1.分辨率：≤0.10nm@200 KV，0.14 nm @80 KV；

2.加速电压：80-200 KV；

3.放大倍率：20-2,000,000X。

应用范围：广泛应用于材料科学，医学，生物学等领域的各种功能材料、纳米材料、植物、标本等的形貌和结构分析。可进行样品的TEM形貌分析、高分辩分析（晶格条纹)，样品的选区衍射分析，STEM分析（明场、暗场及元素的Mapping）。

制样要求：

1.样品干燥，无磁性，无腐蚀性，无挥发性液（气）体；

2.粉末状（≤200目）。

操作人员：戈桦、丁秀萍

联系方式：0971-6363102；E-mail：dingxp@isl.ac.cn

安放地点：中国科学院青海盐湖研究所  综合楼105房间