材料、矿物物相结构及形貌分析平台

JEM-F200 高分辨场发射透射电镜

                                                                                                                            

 

仪器名称:高分辨场发射透射电镜

仪器型号:JEM-F200;X-MAXN能谱仪

生产厂家日本电子/英国牛津仪器公司

主要技术指标:

1.信息分辨率 0.12nm@200kV;

2.线(晶格)分辨率 0.10nm@200kv 0.14nm@80kv;

3.扫描透射分辨率 0.16nm@200kv热场 0.31nm@80kv(Profile测量方法,非衍射);

4.点分辨率 0.19nm@200kv(Profile测量方法,非衍射)

 

主要功能和应用:

       能够广泛应用于材料的的TEM形貌分析、高分辩分析(晶格条纹)、STEM分析(明场、暗场及元素的Mapping)、样品的选区衍射分析。

操作人员: 戈桦、丁秀萍

联系方式0971-6363102;E-mail:dingxp@isl.ac.cn

安放地点: 中国科学院青海盐湖研究所  综合楼105房间

 

                                                   

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